產 品
ASSET ScanWorks 邊界掃描開發平臺

一、簡介:

邊界掃描技術也就是通常所指的IEEE1149.1標準,是由著名的JTAG工作小組起草并且批準實施的行業標準,已經在行業中得到了廣泛的應用,所以通常也稱邊界掃描技術為JTAG技術,又稱邊界掃描接口為JTAG接口。作為復雜數字電路故障診斷專用技術,目前行業對JTAG的支持已經比較充分,元器件廠商、EDA工具廠商以及自動測試儀器廠商都推出大量的技術、產品和設備并且成功應用于電子系統設計、生產和維護等產品生命周期全流程。

博基興業代理的美國ASSET? InterTech公司是邊界掃描市場的領導者,成立于1995年,專注邊界掃描工具的開發,所研制的邊界掃描開發平臺不僅供應了思科、諾基亞、摩托羅拉等全球知名客戶,更得到美國雷神公司、通用動力、洛克.馬丁公司等軍工巨頭的青睞,而且在泰瑞達的HSSub、洛.馬公司的LM-STAR等知名測試系統中得到集成使用。

 

 

 

二、ASSET邊界掃描測試平臺ScanWorks測試系統組成介紹

ScanWorks軟件功能:

1 根據網絡表和JTAG芯片的BSDL文件,產生包含所需要的測試數據串(脈沖序列代碼)的測試程序;

2 生成儲存器和可編程器件在線燒錄數據;

3 生成測試覆蓋率報告;

4 測試錯誤的分析診斷(管腳級)及圖形顯示;

5 程序測試;

6 執行儲存器測試;

7 可編程期間程序燒錄;

 

 

 

 

四、系統主要功能

 

    • Extended Boundary Scan Test 標準測試(基礎測試、互聯測試、簇測試、內存測試)

     

    支持IEEE1149.4標準,對模擬電路進行測試 對直流耦合、交流耦合、差分信號等高速信號測試 支持Built-inself-Test(BIST)支持腳本,可對模數混合電路進行測試 。

     

    1. Control of External Instruments
    2. ?可與ICT測試設備配合使用
    3. 可與AOI測試設備配合使用

    4. 可與功能測試配合使用

     

    1. Flash/PLD Programming
      對高速Flash進行燒寫,壞塊檢測
      PLD在線編程(JAM/STAPL/SVF)
      支持IEEE1532標準,可并行對PLD編程

     

    1. Graphical Analysing and Debugging
    2. 可具體對器件管腳靈活控制,具有單步及連續運行的診斷功能
    3. 可準確定位故障點,通過故障網絡可直接定位到原理圖和PCB

    客戶眾多,緊跟測試世界測試技術的前沿,產品不斷滿足各大客戶測試的需要。

     


     


     

     

     


     

     

     

     

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